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        886-2-82262088	
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        半導體自動光學檢測設備
        
              	
                
        
                    
                    
        
      	
        
			
        
				
        
										
									
        
				
        
					
        
						
        晶圓自動光學檢測設備
        
						
        WIM 300系列針對半導體晶圓於製程中所產生瑕疵提供精準光學檢量測分析，為兼具2D及3D檢量測功能之最佳品質控管利器。
        
					
        
				
        
			
        
					
        
				
        
										
									
        
				
        
					
        
						
        晶圓自動光學檢測設備
        
						
        WIM200系列提供晶圓外觀檢量測分析，針對不同類型的產品表面材質以不同光源掃描，同時整合多工多核影像處理技術，達到高檢出的效益。