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        LCD 自動光學檢測設備

        Array 高解析度自動光學檢測設備

        Array AOI 針對Array段製程的基板提供精準自動光學檢測分析,可檢最大基板尺寸達到G10.5。

        彩色濾光片自動光學檢測設備

        CF AOI 針CF段製程的基板提供精準自動光學檢測分析,可檢最大基板尺寸達到G10.5。

        配向膜自動光學檢測設備

        PI AOI 針對Cell段製程中配向膜塗佈後可能產生的塗佈不均、Particle等缺陷進行精準檢測,可檢最大基板尺寸達到G10.5。

        框膠製程自動光學檢測設備

        Seal AOI 針對Cell段框膠黏合後製程中可能產生的缺陷進行高精準掃描檢測,可檢最大基板尺寸達到G10.5。

        In-line OD/膜厚/色度自動量測設備

        ILSP 採用高精密量測儀器並針對Cell段製程CF於BM、R、G、B、OC及 PS塗佈後進行色度量測、膜厚量測、塗佈異常檢測等精密檢測分析,可檢最大基板尺寸達到G10.5。

        PSVA自動光學檢測設備

        NPMVA針對CF製程中CF和TFT的玻璃貼合後尚未裁切之料片,通電進行液晶狀況檢測,可檢出Mura、液晶異?;虍愇锘烊氲热毕?;同時具備輝度量測、灰階對比、反應時間量測分析功能,是全方位的自動光學檢測設備??蓹z最大基板尺寸達到G10.5。

        TFT-LCD 製程缺陷自動拍照機

        針對TFT-LCD全製程提供精準的缺陷複檢,即時分析檢測資訊,有效提升產品品質。

        Mura 缺陷自動光學檢測設備

        DM針對塗佈後、曝光前所產生之Mura進行精準檢測,亦可適用於Array in-line/ final、CF in-line/ final、LCD final等各製程基板檢測,可檢最大基板尺寸達到G10.5。

        切割後玻璃外觀光學檢測設備

        Cut AOI 針對偏貼前的大尺寸玻璃基板進行外觀檢測,可檢最大基板尺寸達到G10.5。

        PCS 外觀光學檢測設備

        PCS AOI 針對偏貼前已切割的小尺寸玻璃基板進行外觀檢測,可檢基板尺寸為4"~15.6"。